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集成電路高/低溫測試之——生命期試驗！
近年來，集成電路技術(shù)得到了快速發(fā)展，特征尺寸不斷縮小，集成度和性能不斷提高。為了減小成本，提升性能，集成電路技術(shù)中引入大量新材料、新工藝和新的器件結(jié)構(gòu)。這些發(fā)展給集成電路可靠性的保證和提高帶來了巨大的挑戰(zhàn)。
可靠性定義中“規(guī)定的時間”即常說的“壽命”。根據(jù)國際通用標(biāo)準(zhǔn)，常用電子產(chǎn)品的壽命必須大于10年。顯然，我們不可能將一個產(chǎn)品放在正常條件下運行10年再來判斷這個產(chǎn)品是否有可靠性問題。因此我們常常把樣品放在高電壓、大電流、高濕度、高溫、較大氣壓等條件下進行測試，然后根據(jù)樣品的失效機理和模型來推算產(chǎn)品在正常條件下的壽命。
可靠性是對產(chǎn)品耐久力的測量，我們主要典型的IC產(chǎn)品的生命周期可以用一條浴缸曲線來表示。
集成電路的失效原因大致分為三個階段：
第一階段被稱為早期失效期, 這個階段產(chǎn)品的失效率快速下降，造成失效的原因在于IC設(shè)計和生產(chǎn)過程中的缺陷；
第二階段被稱為偶然失效期, 這個階段產(chǎn)品的失效率保持穩(wěn)定，失效的原因往往是隨機的，比如溫度變化等等；
第三階段被稱為損耗失效期，這個階段產(chǎn)品的失效率會快速升高，失效的原因就是產(chǎn)品的長期使用所造成的老化等。
高/低溫操作生命期試驗
目的：
評估器件在超熱和超電壓情況下一段時間的耐久力
測試條件:
125℃，1.1VCC,動態(tài)測試
失效機制：
電子遷移，氧化層破裂，相互擴散，不穩(wěn)定性，離子玷污等
測試條件：
125℃條件下1000小時測試通過IC可以保證持續(xù)使用4年，2000小時測試持續(xù)使用8年；
150℃條件下 1000小時測試通過保證使用8年，2000小時保證使用28年；
參考標(biāo)準(zhǔn)：
MIT-STD-883EMethod 1005.8
JESD22-A108-A
EIAJED-4701-D101
針對以上測試條件，在選擇高低溫試驗箱方面很多工程師朋友一定會有很多問題吧
選擇什么品牌的高低溫試驗箱來進行可靠試驗?zāi)兀?/p>
品牌的性價比高不高？
高低溫試驗箱的溫度的精確嗎？均勻性和波動度怎么樣？
長時間運行穩(wěn)定嗎？1000小時的試驗可不能中斷啊
長期運行是否節(jié)能？會不會很費電呢？
售后服務(wù)怎么樣？有沒有保障？響應(yīng)時間快不快？
小編向您推薦華測儀器品牌的高低溫試驗箱。
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