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溫變?cè)囼?yàn)箱應(yīng)用領(lǐng)域
溫度循環(huán)應(yīng)力篩選是產(chǎn)品在設(shè)計(jì)強(qiáng)度極限下，運(yùn)用溫度加速技巧在上、下限極值溫度內(nèi)進(jìn)行循環(huán)時(shí)，產(chǎn)品產(chǎn)生交替膨脹和收縮改變外在環(huán)境應(yīng)力，使產(chǎn)品中產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變，透過(guò)加速應(yīng)力來(lái)使?jié)摯嬗诋a(chǎn)品的瑕疵浮現(xiàn)[潛在零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵]，以避免該產(chǎn)品于使用過(guò)程中，受到環(huán)境應(yīng)力的考驗(yàn)時(shí)而導(dǎo)致失效，造成不必要的損失，對(duì)于提高產(chǎn)品出貨良率與降低返修次數(shù)有顯著的效果，另外應(yīng)力篩本身是一種制程階段的過(guò)程，而不是一種可靠度試驗(yàn)，所以應(yīng)力篩選是100％對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行的程序。
設(shè)備主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。本試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
恒溫恒濕試驗(yàn)箱、恒溫試驗(yàn)箱以及恒濕試驗(yàn)箱在功能上有哪些不同？
1：雖然它們都是試驗(yàn)箱但是它們測(cè)量材料的環(huán)境是有所不同的，如恒溫試驗(yàn)箱它可以保證材料在一個(gè)溫度保持不變的情況下進(jìn)行試驗(yàn)，不管是高溫到300℃還是低溫到零下攝氏度它都能確保材料周圍的溫度保持不變。
但是它不能確保材料周圍的濕度。恰好恒濕試驗(yàn)箱彌補(bǔ)了恒溫試驗(yàn)箱這一塊的不足，恒濕試驗(yàn)箱可以保證材料周圍一定的濕度保持不變，以便測(cè)量材料的濕度適應(yīng)范圍。而恒溫恒濕試驗(yàn)箱正好集合了以上兩種試驗(yàn)箱的優(yōu)點(diǎn)，既具備高溫，低溫，濕度功能還具備單獨(dú)的高溫試驗(yàn)，低溫試驗(yàn)等功能。
由于它具備這么強(qiáng)大的功能，因此被業(yè)界稱為不可缺少的試驗(yàn)設(shè)備。。
2：以上是它們之間功能的不同，當(dāng)然價(jià)格也是不一樣的。相對(duì)于恒溫恒濕試驗(yàn)箱來(lái)說(shuō)，恒溫試驗(yàn)箱、恒濕試驗(yàn)箱的價(jià)格是沒(méi)有前者貴的，也正是由于功能的強(qiáng)大，因此價(jià)格上肯定是有差異的。
環(huán)境可靠性試驗(yàn)
環(huán)境可靠性試驗(yàn)可大致可分為氣候環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)和綜合環(huán)境試驗(yàn)。與氣候有關(guān)的環(huán)境試驗(yàn)包括溫度，濕度與壓力等環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)，而機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)則包括沖擊和振動(dòng)等環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)。
機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)：沖擊、碰撞、振動(dòng)、加速、聲振、跌落、運(yùn)輸。
氣候環(huán)境試驗(yàn)：溫度、濕度、氣體腐蝕、霉菌、鹽霧、風(fēng)雨、壓力、輻射。
綜合環(huán)境試驗(yàn)：機(jī)械環(huán)境和氣候環(huán)境相結(jié)合的環(huán)境因素。
環(huán)境試驗(yàn)貫穿于電子電工產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、試制、生產(chǎn)、銷售、使用的全過(guò)程，通常是設(shè)計(jì)――環(huán)境試驗(yàn)――改進(jìn)――再環(huán)境試驗(yàn)――直至投產(chǎn)。環(huán)境試驗(yàn)做得越仔細(xì)越嚴(yán)格，改進(jìn)提高得越好，在使用中越可靠。其應(yīng)用范圍有：
(1)用于研究性試驗(yàn)
研究性試驗(yàn)主要用于產(chǎn)品的設(shè)計(jì)，研制階段，用于考核所選用的元器件、設(shè)計(jì)的結(jié)構(gòu)、采用的工藝等能否滿足實(shí)際環(huán)境的要求和存在的缺陷。為了節(jié)省時(shí)間和充分暴露產(chǎn)品的薄弱環(huán)節(jié)，通常都用加速和強(qiáng)化的方法進(jìn)行。例如，為了考核晶體管、集成電路的內(nèi)強(qiáng)度，采用遠(yuǎn)高于普通試驗(yàn)條件(嚴(yán)酷等級(jí))所規(guī)定的嚴(yán)酷等級(jí)進(jìn)行試驗(yàn)。
(2)用于產(chǎn)品的定型(型式)試驗(yàn)
這一階段的環(huán)境試驗(yàn)是用來(lái)確定產(chǎn)品的主要技術(shù)指標(biāo)是否達(dá)到設(shè)計(jì)要求，能否適用于預(yù)定的環(huán)境(其中包括安裝和維修中出現(xiàn)的環(huán)境條件)，能否保證預(yù)計(jì)的壽命并滿足安全要求。定型試驗(yàn)是最全面的試驗(yàn)，產(chǎn)品可能遇到的環(huán)境因素都要通過(guò)環(huán)境試驗(yàn)來(lái)考核。
(3)用于生產(chǎn)檢查試驗(yàn)
環(huán)境試驗(yàn)用于生產(chǎn)檢查試驗(yàn)有兩種含義，一是檢查產(chǎn)品的工藝質(zhì)量，例如通過(guò)振動(dòng)試驗(yàn)來(lái)檢查焊接質(zhì)量和連接緊固性。另一種是在正常生產(chǎn)中，當(dāng)生產(chǎn)工藝有重大變更時(shí)，或當(dāng)生產(chǎn)了一段相當(dāng)長(zhǎng)的時(shí)間后，用環(huán)境試驗(yàn)來(lái)檢查其質(zhì)量的穩(wěn)定性。
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